半導体 破壊 モード

一般リレー トラブルシューティング 技術解説 オムロン制御機器

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故障解析事例 静電気破壊の再現実験 株式会社クオルテック

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１３ ４ １１ パワー サイクル ルネサスによると パワー サイクル 断続通電 試験 高電力 パワー 系半導体部品はオン オフによる温度変化の影響で故障を生じる この故障には２つのモードがあり Dｔｊモード 比較的短い時間のオン オフ

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